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製品センター

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プローブステーション


CL-6 中級プローブステーション

CINDBEST 高出力デバイス特性評価システムは、ウェーハ上の高出力デバイステスト専用に設計されています。

CINDBEST CL-6およびCH-8プローブステーションシステムは、150 mmおよび200 mmウェハ向けの完全なソリューションを提供します。

それらは、広い温度範囲でパワー半導体の低接触抵抗測定を実現するように設計されています。

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M001真空低温プローブステージ

コンパクトな構造で、さまざまな温度変化試験に適しています。

温度範囲 -196~200℃(300、400、500はカスタム対応)、液体窒素冷却モジュール付き

真空チャンバー設計、保護ガスを通すことができます

4プローブ、手動定位、標準装備1.5メートル同軸テストケーブル(同軸オスコネクター)

上位機ソフトウェア制御

マルチプローブテストの変更やカスタマイズをサポートします。

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M002真空低温プローブステージ

コンパクトな構造で、さまざまな温度変化試験に適しています。

温度範囲 -196~200℃(300、400、500はカスタム対応)、液体窒素冷却モジュール付き

真空チャンバー設計、保護ガスを通すことができます

4プローブ、手動定位、標準装備1.5メートル同軸テストケーブル(同軸オスコネクター)

上位機ソフトウェア制御

マルチプローブテストの変更やカスタマイズをサポートします。

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CGO-4-N 高低温真空プローブステージ

材料およびフロントエンドデバイスの非破壊電気特性分析が、DC、RF/mmWテストをはじめ、MEMS、光電気テストなどに活用されています。

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PCBプローブステーションシリーズ

最大PCBサイズ対応:800mm×700mm

厚さ:0.2~10mm(サイズが大きく薄い)

台座のサイズ:長さ×幅×高さ(130cm×110cm×150cm)は参考であり、実際のものに準じます。

載物台固定方式:PCB治具(4セット)

顕微鏡の精密移動ストローク:50×50mm 粗調節ストローク:800×700mm

針座プラットフォームには、最大でプローブ座4個または拡散モジュール2個を配置でき、調整範囲は800×700です。

移動式ニードルホルダープラットフォーム。上面には任意の位置にニードルホルダーを配置でき、磁気逆転吸着方式が適用可能な産業:(TFT-LCD産業、STN-LCD産業、OLED産業、半導体産業、光電工場)またはPCB工場

一体型気泡浮上式防振設計、固有周波数:水平1.5Hz、垂直2Hz、脚付きホイール付きスタンド、空気圧縮機付

ネット分岐フレームのサイズ:長さ×幅×高さ(1210mm×704mm×1600mm)を参考にしてください。実際のものに準じます。

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