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3672A/B/C/D/E ベクトルネットワークアナライザ


ネットワークアナライザーは、マイクロ波およびミリ波のネットワーク特性パラメータ測定を実現するための核心的な計測機器です。3672シリーズは、ユーザーに高水準のネットワークパラメータ測定ソリューションを提供し、周波数範囲はRF、マイクロ波、ミリ波、テラヘルツ帯域までカバーしています。高いシステムダイナミックレンジ、低トレースノイズ、高精度な測定が特長で、周波数範囲は10MHz~500GHzに及びます。また、従来のSパラメータ測定機能に加え、パルス測定、マルチポート測定、周波数変換測定、さらにはテラヘルツ拡散測定など、多様な総合測定能力を備えています。関連製品ラインナップには、高性能ベクトルネットワークアナライザー、多機能ベクトルネットワークアナライザー、エコノミーネットワークアナライザー、アンテナフィードテスト器、電子校正具/機械校正具、そしてテラヘルツ拡散モジュールなどのシリーズが含まれます。
所属分类:

テスト計器

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  • 機能の特長

    • 校正タイプは柔軟に選択可能で、複数の校正用具に対応しています。

    • マルチウィンドウ、マルチチャンネル測定をサポートし、複雑なテストプログラムを迅速に実行できます。

    • 対数振幅、線形振幅、定在波、スミスチャートなど、さまざまな表示形式を備えています。

    • USB、GPIB、LAN、VGAの各インターフェースを搭載

    • 中/英語の操作インターフェース、12.1インチ 1280×800 高解像度マルチタッチディスプレイ

    • 録画/実行、ワンタッチ操作で測定設定手順が簡素化され、作業効率が向上します。

    • 統合型パルスSパラメータ測定、時間領域測定、ミキサー測定、利得圧縮2次元スキャン測定を備え、THz拡散周波数変調やアンテナおよびRCS測定の受信機能もサポートしています。

     

    人間中心のユーザーインターフェースはシンプルで直感的であり、操作が容易なため、テスト効率を向上させることができます。

     

     

    校正タイプは柔軟に選択可能で、複数の校正用具に対応しています。

    3672シリーズのベクトルネットワークアナライザは、ガイド校正(自動校正)、ノンガイド校正(機械式校正具を用いた透明応答校正、透明応答とアイソレーション校正、シングルポート校正、強化型応答校正、フルデュアルポートSOLT校正、TRL校正)に加え、電気的校正(ECal)など、さまざまなタイプの校正を提供しています。実際の測定ニーズに応じて、同軸3.5mm校正具や電子校正具など、複数の種類の校正具から選択可能で、異なるインターフェースタイプのデバイスのテストが容易に行えます。

     

    複数ウィンドウで全測定チャンネルを表示する

    本製品はマルチチャンネルおよびマルチウィンドウ表示機能を備えており、最大64チャンネルに対応し、同時に最大16個の測定ウィンドウを表示可能。各ウィンドウには最大8本のテスト軌跡を同時に表示でき、観察結果をより直感的に、ユーザーにとってさらに使いやすくします。

     

    録画機能でワンクリックの自動テストを実現

    機器の使用中にユーザーが行ったすべての操作手順を記録し、必要に応じてユーザーが編集したヒントダイアログを随時挿入可能。また、指定された時間になると自動的にヒントダイアログがポップアップ表示され、ユーザーの確認を待つことで、ユーザーとの双方向機能を実現。これにより、スマート機器の一鍵自動化機能がまさに実現されました。

     

    広いダイナミックレンジ

    3672シリーズのベクトルネットワークアナライザは、ミキシング受信方式を採用し、本体の測定ダイナミックレンジを効果的に拡大。大規模なダイナミックレンジでのテストニーズにもお応えします。

     

    周辺機器のインターフェースが豊富で、柔軟かつ実用的

    3672シリーズのベクトルネットワークアナライザは、PCと互換性のある組み込み型コンピュータモジュールとWindowsオペレーティングシステムを活用したソフトウェア・ハードウェアプラットフォームを採用し、測定機器とパーソナルコンピュータの完璧な統合を実現しています。ユーザーは豊富なI/Oインターフェース(GPIB、USB、LANなど)を利用して、データ通信のテストを容易に行うことができます。

     

    軌跡ノイズが少なく、測定精度が高い

    3672シリーズのベクトルネットワークアナライザは、優れたトレースノイズ性能により、機器全体の測定精度を大幅に向上させ、ユーザーの高精度な測定ニーズを満たします。特に、挿入損失が小さいデバイスの正確な測定に役立ちます。(下図は3672Bを例としています)

     

    時領域解析

    3672シリーズのベクトルネットワークアナライザは、時間領域測定オプションを設定することで、測定結果の周波数領域と時間領域との切り替えが可能となり、デバイス、治具、またはケーブル内の不連続点の位置を特定し、故障点の正確な位置特定を実現します。

     

    高い 階層的時領域解析(TDRオプション)

    情報産業の急速な発展に伴い、ネットワーク帯域幅への需要もますます高まっており、大規模サーバーやコンピューター、スイッチなど、情報機器が扱えるデータレートもますます速くなる必要があります。そのため、情報機器メーカーは高速相互接続チャネルにおける信号の整合性問題にも一層の関心を寄せています。伝送路の特性変化は、信号伝送品質に大きな影響を与えるため、高度な時間領域解析オプションは、高速リンクの信号伝送品質を評価する上で重要な手段となっています。

    TDR時領域インピーダンス測定は、伝送ライン上のインピーダンス特性の変化を高精度でテストし、不連続性を特定することができます。

    便利な近端および遠端のクロストークテストにより、時間領域と周波数領域の両方のデータを同時に分析し、複数の伝送線間の相互影響の程度を測定できます。

    高度な時間領域解析オプションは、Sパラメータに基づく仮想アイダイアグラムの生成および分析機能を提供します。シミュレーション・コードパターン出力ユニットは、0と1が変化するデータビットを生成するために使用され、このシミュレーション・コードパターンと測定対象デバイスの時間領域インパルス応答を畳み込み、重ね合わせることで仮想アイダイアグラムを得ます。

    異なる高速デジタル通信規格に基づき、高度な時間領域解析オプションは、事前に定義されたアイダイアグラムテンプレートを用いて効率的な合格/不合格テストを実施できます。

    高度な時間領域解析オプションでは、シミュレーションアイダイアグラムにジッタやノイズなどの干渉を加えることができ、プリエンファシスやイコライゼーションなどの補正アルゴリズムを組み込むことで、実際の環境下での高速リンク各所におけるシミュレーションアイダイアグラムを再現します。

     

    自動治具取り外し機能により、非標準接続部品のテストを実現します。

    ベクトルネットワークアナライザの測定対象には、パッケージングされたマイクロ波デバイスやオンチップデバイスなど、非標準の接続部品が含まれます。これらのデバイスの最も顕著な特徴は、ベクトルネットワークアナライザに直接接続できない点です。治具を使用することで、被測定部品をベクトルネットワークアナライザに接続できますが、同時に治具誤差も生じてしまいます。自動治具除去機能により、治具のパラメータを抽出・保存し、さらに治具のアンビンディングを行うことで、被測定部品の実際のパラメータを得ることができます。この機能は操作が簡単で、高い精度を誇ります。

    治具の説明を行う際には、シングルエンド治具やディファレンシャル治具を設定できるほか、治具のポート数などの情報を選択することも可能です。また、治具パラメータの抽出には、治具基準の測定が必要です。基準の説明画面では、治具基準として直通基準、オープン基準、ショート基準の3種類が含まれています。

    自動治具の取り外し機能を活用し、被測定部品を一体として取り扱い、バランスパラメータの抽出と4端子ポートのデインベストメントを行いました。テスト結果によると、伝送パラメータは良好に除去でき、近端クロストークおよび遠端クロストークも効果的に低減されました。

     

    典型的なアプリケーション

    ゲイン圧縮2次元スキャンで、テスト効率を向上させる

    アクティブデバイス(アンプなど)のゲイン圧縮測定アプリケーション(S86オプション)では、一度の設定、一度の接続、一度の校正で、周波数領域におけるアンプの全ゲイン圧縮パラメータ(圧縮点の入力電力、圧縮点の出力電力、圧縮点のゲインなど)および線形パラメータ(線形ゲイン、入力マッチング、出力マッチングなど)を取得できます。特長:

    • 迅速で正確なスマートスキャン;

    • 一目でわかるガイド校正;

    • 便利で迅速なUSB電子校正、USB電力校正;

    • 2次元スキャン(周波数点走査パワーおよびパワー点走査周波数)が一度に完了します;

    • さまざまな圧縮方法——線形/最大ゲイン圧縮、飽和状態からの圧縮、バックレット法、およびX/Y法から。

       

    ミキサー/周波数変換器テスト

    3672シリーズベクトルネットワークアナライザの4ポート測定機能オプション(400、S82、S83、S84オプション)は、内蔵のデュアルソースを備えており、ミキサー/周波数変換器のスカラーおよびベクトルパラメータテストを実行できます。

    1)ミキサー/周波数変換器のスカラー特性測定

    ミキサー/周波数変換器のスカラー測定アプリケーションオプション(S82オプション)を使用すると、周波数領域におけるすべてのスカラー諸元(入出力ポートのマッチング、周波数変換利得、入出力電力など)を取得できます。従来の試験方法に比べた際のメリットは以下の通りです:

    • 一度の接続設定で、複数のパラメーターを一括してテスト完了;

    • 人間工学に基づくシンプルなキャリブレーション画面;

    • 便利で迅速なUSB電子校正、USB電力校正;

    • 内蔵の二重励振源により、別途信号源によるローカル発振信号の供給が不要です。

    • ポートマッチングに基づくパワー較正技術;

    • ユーザーの高精度ミキサーのスカラー・パラメータ試験ニーズを解決します。



    2)ミキサー/周波数変換器のベクトルパラメータ測定

    ベクトルミキサー/周波数変換デバイス試験アプリケーションオプション(S83オプション)は、周波数変換デバイスの周波数変換損失または利得、ポート入力/出力電力(順方向および逆方向)、定在波、位相、群遅延などのパラメータ測定を統合した試験用ソフトウェアです。主な特長は以下の通りです。

    • 測定プロセスでは、基準ミキサーを用いて特性評価を行う必要があります。

    • 内蔵の二重励振源により、別途信号源によるローカル発振信号の供給が不要です。

    • テストパラメータは網羅的であり、スカラー混変調器のテストに比べて、位相や群遅延などのパラメータを追加で測定できる機能が備わっています。

     

    3672シリーズのベクトルネットワークアナライザには、フィルターテストメニューが搭載されており、周波数領域におけるフィルターの全通過帯域特性(バンド幅、中心周波数、Q値、左カットオフ周波数、右カットオフ周波数など)と阻止帯特性(ダイナミックレンジ、隔離度など)を取得できます。有するもの:

    迅速で正確なセグメントスキャン;

    • 一目でわかる校正ガイド;

    • 迅速で高精度な電子校正技術;

    • 通過帯と阻止帯の指標は、一度の測定で完了します。

    • 統合型パルスSパラメータ測定

     

    3672シリーズのベクトルネットワークアナライザは、パルス変調信号出力を備えており、パルス状態でのSパラメータ測定を実行できます。特長:

    内蔵の4チャンネルパルス発生器とパルス変調器により、ポート1および3からパルス変調信号を出力可能。

    • 完全なパルスソリューションにより、広帯域モードおよび狭帯域モードの両方において、パルス内の定点測定、パルスエンベロープ測定、周波数掃引パルス測定が可能です。

    • 外部のパルス発生器およびパルス変調器と同期させることができ、複雑なパルス同期テストを実現できます。

    • 自動化テスト

     

    GPIBバスインターフェースとネットワークポートにより、柔軟で多様な制御方法を提供します。機器の相互接続を完了し、コマンドを送信するだけでご利用いただけます。自動校正、自動測定、自動読み取り、自動印刷など、包括的な自動テストソリューションを提供します。特長:

    シンプルな操作方法、LANケーブル1本、GPIBカード1枚;

    • コストを効果的に削減し、限られた人的資源を解放する;

    • 効果的な時間内でより多くのテストを完了し、開発サイクルを大幅に短縮します。

    • 正確な時間制御や、複雑な環境下でのテストなど、人間には不可能と思われるタスクを達成する。

    • ノイズ係数およびノイズパラメータの測定

     

    3672シリーズベクトルネットワークアナライザーノイズ係数オプション(003オプション)は、ベクトル誤差補正と独自のソース端整合校正法を組み合わせることで、高精度なノイズ係数およびノイズパラメータ測定機能を提供します。

    ノイズ係数測定オプション(オプション003)を使用すると、測定対象のノイズ係数、ノイズパラメータ、ノイズパワー・パラメータ、およびノイズ相関行列を取得でき、従来の試験方法に比べて以下の点で優れています:

    一度の接続設定で、ノイズ係数、ノイズパラメータ、Sパラメータなど、複数のパラメータテストを一括して完了できます。

    • より小さなノイズ係数の精密測定;

    • 測定範囲が広い(0dB~55dB);

    • チップ上のノイズ係数の高精度測定に利用可能;

    • 治具やテストシステムなどのシーンで、ノイズ係数の高精度測定に活用できます。

    • 治具やテストシステムなどのシーンで、ノイズ係数の高精度測定に活用できます。