CH-8-D 両面プローブステージ
CINDBEST CH-8-D 両面ポイント針プローブステーションは、ウェハおよびPCB基板のテストに使用でき、正面と背面両方から同時に針を刺すことで、さまざまな光/電気特性テストのニーズに対応するテスト装置として活用されます。
このカスタムプローブステーションは、優れた機械システム、安定した構造、人間工学に基づく設計、および複数のアップグレード機能を備えています。
CHシリーズハイエンドプローブステーション
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CINDBEST CH-8-D 両面ポイント針プローブステーションは、ウェハおよびPCB基板のテストに使用でき、正面と背面両方から同時に針を刺すことで、さまざまな光・電気特性テストのニーズに対応するテスト装置として活用されます。このカスタムプローブステーションは、優れた機械システム、安定した構造、人間工学に基づいた設計、さらに複数のアップグレード機能を備えています。集積回路、ウェハ、LED、LCD、太陽電池など、さまざまな産業の製造および研究分野で広く活用可能です。
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技術仕様
CH-8-D 両面プローブステーション 台座
水平回転
チャックは360度回転可能で、微調整の精度は0.1度以下、ロックノブ付きです。
XY移動ストローク
XYの移動精度
10μm/1μmから選択可能
サンプルの固定
サンプルクランプは固定可能で、サイズ調整も可能です。真空吸着方式で固定し、チャックの多層吸着リングは個別に制御できます。
両面ポイント針プラットフォーム
空気圧リフトプラットフォームは、昇降することで二段式となり、降下時には単段式として使用可能である。
プラットフォームの針座数
単一のプラットフォームに最大8つのCB-200ニードルホルダーを配置可能
チャック構造
通常／高温／背面電極付きなど、さまざまな構造のカードが選択可能
温度制御システム
温度範囲
室温～200℃（300℃、400℃、500℃も選択可能）
温度制御分解能
温度制御の安定性
温度制御センサー
100 Ω 白金抵抗センサー
正面光学システム
200W／500W／1200W ピクセルから選択可能（表裏）
顕微鏡の種類
単眼／立体／金属顕微鏡から選べます
倍率を拡大する
顕微鏡の調整
水平方向に支柱を中心にX-Y方向に2×2インチ移動し、Z軸のストロークは50.8mmです。
光源
外部設置型LEDリング光源／同軸光源
背面光学システム
L型シングルチューブ顕微鏡
連続倍率
16X-100X/20X-2000X
拡大倍率範囲
315X（計算式：ズーム×CCD×ディスプレイ）
万向モバイル
同軸光源
背面光学システム
背面光学システム
L型シングルチューブ顕微鏡
連続倍率
6.3:1
拡大倍率範囲
0.75 – 5X
連続倍率
315X（計算式：ズーム×CCD×ディスプレイ）
拡大倍率範囲
万向モバイル
万向モバイル
同軸光源