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鉄電圧電気分析装置 TFアナライザー 3000


TF ANALYZER 3000Eは、拡張性が非常に高い高速型のモジュール式鉄電圧電分析装置です。鉄電気、圧電気、熱光起電力材料に関するすべての基本的な特性試験機能を備えており、レーザー干渉計やSPM走査プローブ顕微鏡などの微小変位センサーと連携して使用可能。これにより、各種の鉄電/圧電/熱光起電力薄膜、厚膜、体材料をはじめ、電子セラミックス、鉄電センサー/アクチュエーター/メモリなど、幅広い分野の研究に活用できます。
所属分类:

テスト計器

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  • 電圧電気分析装置 TFアナライザー3000

    TF ANALYZER 3000Eは、拡張性に非常に優れた高速型のモジュール式鉄電圧電分析装置です。鉄電気、圧電気、熱光起電力材料に関するすべての基本的な特性試験機能を備えており、レーザー干渉計やSPM走査プローブ顕微鏡などの微小変位センサーと連携して使用可能。そのため、各種の鉄電/圧電/熱光起電力薄膜、厚膜、体材料をはじめ、電子セラミックス、鉄電気センサー/アクチュエーター/メモリなど、幅広い分野の研究に広く活用されています。

    モジュール型設計のTFアナライザー3000は、優れた拡張性を備えています。

    • FEモジュール - 鉄電気的標準試験;
    • MRモジュール - 磁気抵抗および強磁性材料の試験;
    • RXモジュール - リラックス電流テスト;
    • DRモジュール - 自己放電テスト。

     

     

  • 基本ユニットのテスト:内蔵された完全な専用コンピュータ本体やテスト用ルート、オペアンプ、データ処理ユニットなどを含み、Windows 7 オペレーティングシステム、強誘電体分析装置専用のテストソフトウェアなども使用します。
     

    FEモジュールの標準テスト機能:

    • ダイナミックヒステリシス 動的電滞特性テスト周波数(強化FEモジュール250kHz、高速強化FEモジュール1MHz);
    • 静的ヒステリシス特性測定;
    • 疲労試験;
    • 保持力;
    • インプリント 印跡;
    • 漏れ電流テスト;
    • サーモ測定 変温テスト機能。
    • FEモジュールのオプションテスト機能:
       

    C-Vカーブ:静電容量-電圧特性曲線;

    • 圧電測定:圧電特性試験;
    • ピロエレクトリック測定:熱放出電気特性試験;
    • インサイト補償 原位置補償;
    • DLCC 動的漏れ電流補償機能;
    • インピーダンス測定 高速強化型専用。
    • 技術説明:
       

    電圧範囲:±25 V(オプションの追加高電圧アンプにより、±10 kVまで拡張可能)

    • 電気遅延周波数:強化型FEモジュールでは250kHz、高速強化型FEモジュールでは1MHz;
    • 最小パルス幅:50ns;
    • 最小立ち上がり時間:10ns;
    • 最大疲労周波数:16MHz;
    • 電流増幅範囲:1pA~1A;
    • 最大負荷容量:1nF;
    • 出力電流のピーク値:±1 A。
    • 拡張可能な部品:
       

    高電圧増幅器、レーザー干渉計、AFM、温度コントローラー、薄膜プローブ用冷熱ステージ、温度変化可能なバルク試料ケース、バルク用温度変化炉、薄膜e31テストプラットフォーム、超伝導マグネット、PPMS、インピーダンス分析装置など。

    MRモジュールは、磁気抵抗および強磁性材料の研究に使用されます。

     

    このモジュールは、連続電流による励振とテストを提供し、試料上の電圧降下は高精度な4点テストによって測定されます。

    RXモジュールは、誘電体および強誘電体材料の分極と消去電流、すなわち電圧ステップを印加した際の電流応答を研究するために使用されます。

     

    この試験では、材料の緩和電流と漏れ電流を分離でき、さらに分極応答電流および脱分極応答電流を記録することができます。

    DRモジュールは、誘電体材料の自己漏れ特性の研究に用いられます。

     

    テスト条件が実際の状況に非常に近いため、この方法によりDRAM材料への適応性を容易に試験することができます。

    産業分野への応用を目的として、TFアナライザ3000は256の自動テストチャンネルを提供し、この計測器のテスト機能を大幅に拡張しています。

     

    上記のすべてのモジュールは、あなたのテストニーズや研究分野に応じて、個別に選択するか、任意に組み合わせることができます。

    上記のすべてのモジュールは、あなたのテストニーズや研究分野に応じて、個別に選択するか、任意に組み合わせることができます。