ソリューション
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Cindbestは、長年の積み重ねた協力経験を活かし、多くの技術的知見を実際の市場向けソリューションに転換してきました。また、継続的な技術革新を通じて、お客様がテストプロセスをより効率的に最適化し、より高精度なテスト測定を実現するのを成功裏に支援しています。
プローブステーションのIV/CV直流テストの核心は、プローブを通じて電気的接続を確立し、テスト機器と連携して半導体デバイスの電流-電圧（IV）特性および容量-電圧（CV）特性を高精度で測定することで、デバイスの性能と信頼性を評価することにあります。
プローブステーションの光電テストの核心は、「光-電」変換と検出のクローズドループを構築することにあります。精密に制御された照明条件と安定した電気的プローブ接触により、光励起下での光電子デバイスの電気的応答を測定し、これによって光電変換効率と性能を評価します。
プローブステーションのレーザー修復テストの核心は、欠陥を正確に位置決めし、ターゲットとなる修復を実現することです。具体的には、プローブステーションの高精度位置決めシステムと顕微鏡などの光学観察装置を組み合わせて、半導体デバイス上の欠陥箇所を正確に見つけ出し、その後、レーザービームを用いて欠陥部位を修復します。例えば、不要な接続を溶断したり、短絡を修復したり、抵抗値を調整したり、材料堆積を行ったりして、デバイスの正常な機能を回復させます。
プローブステーションのホール測定ソリューションは、半導体材料およびデバイスの電気特性評価の核心技術です。精密な機械操作、安定した磁場供給、正確な環境制御、そしてスマートな信号解析を統合することで、キャリア濃度、移動度、導電タイプなど、重要なパラメーターを非破壊かつ高精度に測定します。
プローブステーションのRFテストソリューションの核心は、ウェハレベルでRF信号の高精度な伝送、歪みのない測定、およびシステムレベルの誤差補正を実現することにあります。精密機械、高周波信号ループ、スマート校正技術を統合することで、高周波領域における皮膜効果やインピーダンス不整合、寄生干渉などの課題を解決し、最終的に測定対象デバイス（DUT）のSパラメータ、出力、位相など、重要なRF特性を取得します。